Detección de presencia patológica en radiografías basada en un marco de deep learning. Actas del Congreso Internacional de Ingeniería de Sistemas, [S. l.], p. 213–224, 2021. DOI: 10.26439/ciis2020.5473. Disponível em: https://revistas.ulima.edu.pe/index.php/CIIS/article/view/5473. Acesso em: 11 oct. 2025.